T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供最佳性能的儀器選擇。
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涂鍍層分析 | RoHS檢測(cè) | 元素分析 |
T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供最佳性能的儀器選擇。
該系列儀器采用微聚焦增強(qiáng)型射線管和數(shù)字多道脈沖信號(hào)處理技術(shù)，同時(shí)搭載增強(qiáng)FP算 法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測(cè)器，無(wú)論在檢測(cè)微小樣品和凹槽的膜厚性 能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復(fù)精度，這也是它廣受客戶、研究所等機(jī)構(gòu)歡迎的原因。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | T450 plus | T450S plus |
成分分析檢測(cè) | S（16） - U（92） | Al（13） - U（92） |
涂鍍層分析 | Li（3） -U（92） | |
ROHS檢測(cè) | 標(biāo)配，最低檢出限可達(dá)2ppm | 標(biāo)配，最低檢出限可達(dá)1ppm |
算法 | 增強(qiáng)型FP算法 | |
分析軟件 | 可同時(shí)分析15層鍍層，24種元素 | |
射線方向 | 從下往上 | |
X射線發(fā)生裝置 | 微聚焦增強(qiáng)型射線管 | |
探測(cè)器 | 高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器 | FAST SDD探測(cè)器 |
高壓 | 0-50KV智能程控高壓系統(tǒng) | |
準(zhǔn)直器 | φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多準(zhǔn)自動(dòng)切換 | |
樣品觀察 | 工業(yè) CCD 高清攝像頭 | |
對(duì)焦方式 | 手動(dòng)對(duì)焦 | |
放大倍數(shù) | 光學(xué)30-50X，數(shù)字放大40-160倍 | |
移動(dòng)平臺(tái) | 微米級(jí)移動(dòng)平臺(tái) | |
操作環(huán)境溫濕度 | 10~35℃,濕度≤70% | |
工作電源 | 交流220±5V | |
安全系統(tǒng) | 多維散熱系統(tǒng)，多重輻射安全系統(tǒng) | |
性能優(yōu)勢(shì)
高穩(wěn)定微聚焦集成系統(tǒng) | 采用自主研發(fā)設(shè)計(jì)的高穩(wěn)定性微聚焦增強(qiáng)型射線管和聚焦光路系統(tǒng)，最小測(cè)量點(diǎn)可達(dá)0.25mm。 |
搭載高性能探測(cè)器
| 分辨率最低至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩(wěn)定性和精度。 |
高精度 | 含量檢出限可達(dá)1ppm，厚度 檢出限可達(dá)1nm。 |
變焦補(bǔ)償算法 | 可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢 測(cè)，凹槽深度范圍 0-25mm。 |
使用壽命長(zhǎng) | 采用自主研發(fā)的多維散熱系統(tǒng)，同時(shí)同樣的測(cè)試面積功率更低，整機(jī)與 射線管使用壽命更長(zhǎng)。 |
應(yīng)用領(lǐng)域
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快速分析
智能體驗(yàn)
超高精度
穩(wěn)定性高
功能強(qiáng)大
環(huán)保檢測(cè)解決方案
歐盟ROHS指令-2011/65/EU | REACH指令 |
無(wú)鹵指令[IEC61249-2-21] | 玩具En71指令 |
美國(guó)CPSIA消費(fèi)品安全改進(jìn)法 | IEC62321標(biāo)準(zhǔn) |
China-RoHS國(guó)推自愿性認(rèn)證 | GB/T26125-2011 |
JPSPEC佳譜公眾號(hào)
佳譜儀器二維碼
